simulacija defektov v urejeni LC celici

Simuliral sem potek direktorskega polja v urejeni celici z različnimi defekti.

Zaznavanje defektov deluje na principu, da je na točki defekta jakost direktorskega polja ~0. Recimo, da je v neki točki prispevek celice v smeri , prispevek defekta pa v smeri 90°, jakosti prispevkov so enake. Ko seštejemo ti dve jakosti dobimo 0, torej je tej točki smer polja nedefinirano - defekt.

Tehnična implementacija seštevanja prispevkov je sledeča:

Direktorsko polje naredi cel krog v 180°, ne pa 360°. Za enostavno računanje s takim poljem kot polja preprostop pomnožimo s faktorjem 2 in nato vektorsko seštejemo vse prispevke. Ko želimo polje prikazati pa kot delimo s faktorjem 2. Metodo lahko prikažemo na zgornjem primeru kotov 0° * 2 = 0° ter 90° * 2 = 180°. Rekli smo, da je jakost obeh prispevkov enaka 1. Torej lahko ta dva prispevka zapišemo kot 2d vektorja v1 = [1, 0], v2 = [-1, 0]. Ko vektorja seštejemo dobimo [0, 0], kar pomeni da smer direktorja ni definirana.

Spodnje slike prikazujejo simulacijo različnih defektov v tekoče kristalni celici z ureditvijo v smeri x. Defekt, ki ga vnesemo je prikazan v modri barvi. Ostali defekti, ki so posledica prvega so označeni z rdečo barvo.

Zanimivo je, da imajo vsi defekti, ki se pojavijo kot posledica vnesenega defekta, faktor s = 0.5.